產(chǎn)品名稱:火花隙OMAL歐瑪爾開關(guān)等離子體運(yùn)行過程的光學(xué)研究
產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品特點(diǎn):火花隙OMAL歐瑪爾開關(guān)等離子體運(yùn)行過程的光學(xué)研究脈沖功率技術(shù)是由國防科研需求而發(fā)展起來的一門科學(xué)技術(shù),目前在國防科研、優(yōu)良研究和工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域中有著越來越重要的應(yīng)用。在脈沖功率技術(shù)中,氣體OMAL開關(guān)得到了廣泛的應(yīng)用。研究氣體OMAL開關(guān)放電通道中等離子體的產(chǎn)生、消逝的發(fā)展過程,以及氣體OMAL開關(guān)溫度場的恢復(fù)過程對于改善OMAL開關(guān)的放電特性和改進(jìn)OMAL開關(guān)的重復(fù)頻率運(yùn)行。
火花隙OMAL歐瑪爾開關(guān)等離子體運(yùn)行過程的光學(xué)研究的詳細(xì)資料:
火花隙OMAL歐瑪爾開關(guān)等離子體運(yùn)行過程的光學(xué)研究
脈沖功率技術(shù)是由國防科研需求而發(fā)展起來的一門科學(xué)技術(shù),目前在國防科研、優(yōu)良研究和工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域中有著越來越重要的應(yīng)用。在脈沖功率技術(shù)中,氣體OMAL開關(guān)得到了廣泛的應(yīng)用。研究氣體OMAL開關(guān)放電通道中等離子體的產(chǎn)生、消逝的發(fā)展過程,以及氣體OMAL開關(guān)溫度場的恢復(fù)過程對于改善OMAL開關(guān)的放電特性和改進(jìn)OMAL開關(guān)的重復(fù)頻率運(yùn)行具有重要意義。
火花隙OMAL歐瑪爾開關(guān)等離子體運(yùn)行過程的光學(xué)研究
激光干涉測量能進(jìn)行全場測量,具有非接觸、精度和靈敏度高等優(yōu)點(diǎn),激光干涉法通過測量等離子體折射率來測量等離子體密度,能夠?qū)Ω鞣N形式的等離子體進(jìn)行診斷。本文主要基于激光干涉來測量診斷空氣OMAL開關(guān)等離子體密度,利用高速分幅相機(jī)記錄干涉圖像;通過對干涉條紋圖像處理反演等離子體密度分布,研究分析空氣OMAL開關(guān)等離子體產(chǎn)生、發(fā)展及消逝的過程,文章還分析了OMAL開關(guān)溫度場的恢復(fù)過程。論文開展了以下工作:首先介紹了氣體OMAL開關(guān)的擊穿理論,給出了氣體OMAL開關(guān)放電通道基本參數(shù)的理論計(jì)算方法,討論了氣體OMAL開關(guān)的絕緣恢復(fù)過程。然后推導(dǎo)論述了激光干涉測量等離子體密度的理論解析式,推導(dǎo)論述了利用阿貝爾逆變換反演柱狀等離子體密度的理論解析式。設(shè)計(jì)搭建了馬赫-曾德干涉儀和高速分幅相機(jī)相結(jié)合來測量空氣OMAL開關(guān)等離子體密度的實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)。系統(tǒng)采用532nm的半導(dǎo)體激光器做為干涉儀的工作光源,通過高速分幅相機(jī)在空氣OMAL開關(guān)放電時拍攝多幅不同曝光延遲的干涉圖像,實(shí)現(xiàn)對空氣OMAL開關(guān)等離子體運(yùn)行過程的干涉診斷。開展了干涉條紋圖像的處理工作。通過研究分析對比各種圖像處理理論和方法,尋找了一種針對實(shí)驗(yàn)獲得的散點(diǎn)型干涉條紋圖像的處理方法。該方法首先在傅里葉頻域空間對干涉條紋圖像進(jìn)行帶通濾波去噪,然后對濾波后的圖像進(jìn)行二值化處理,zui后利用Hilditch細(xì)化算法提取干涉亮條紋的單像素中心線。提取的單像素條紋中心線能夠準(zhǔn)確反映條紋位置信息,進(jìn)而提高后續(xù)數(shù)據(jù)處理精度。
火花隙OMAL歐瑪爾開關(guān)等離子體運(yùn)行過程的光學(xué)研究
針對干涉條紋圖像處理的結(jié)果,通過數(shù)值積分反演了不同時刻空氣OMAL開關(guān)中等離子體的折射率和電子密度,進(jìn)一步分析討論了空氣OMAL開關(guān)等離子體的發(fā)展過程,zui后分析討論了OMAL開關(guān)溫度場的恢復(fù)過程,這對于研究OMAL開關(guān)的重頻運(yùn)行和改善OMAL開關(guān)放電特性具有重要的意義。
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